Вольфрамовый лист 4х100х2000 мм ВА в Томске

Соответствие удельного электрического сопротивления вольфрамового листа техническим условиям определяется путем измерения сопротивления на образцах. Часто используется четырехзондовый метод, позволяющий получить точные данные без влияния контактного сопротивления, согласно соответствующим методикам контроля.

Избирательную коррозию вольфрамового листа могут вызвать горячие концентрированные окислительные кислоты (азотная, серная), галогены (хлор, фтор, йод) при повышенных температурах, а также расплавленные щелочи. Эти среды способствуют образованию растворимых или летучих соединений вольфрама.

Поверхностная обработка, такая как полировка или травление, критически влияет на применение листа ВР-27ВП в качестве подложки. Она обеспечивает необходимую чистоту, плоскостность и шероховатость поверхности для равномерного осаждения пленок и адгезии, что важно для полупроводниковой и оптической промышленности.

Применение листа толщиной 0.03 мм позволяет создавать сверхтонкую фольгу. Такая фольга необходима для специализированных применений, например, в качестве окон для рентгеновского излучения, мишеней в физических исследованиях или компонентов, где критична минимальная масса.

Толщина 0.05 мм оптимальна для фольги, используемой в качестве источника для вакуумного испарения. Тонкий лист обеспечивает быстрый и равномерный нагрев, эффективное испарение вольфрама для создания тонких пленок, а также минимальную термическую инерцию системы.

Вольфрамовый лист встречается в экспериментальных установках, требующих сверхвысоких температур, таких как токамаки (для футеровки первой стенки), высокотемпературные вакуумные печи для синтеза материалов и установки для исследования плазмы.

К готовым изделиям из вольфрамового листа, подвергшимся термической обработке, применимы методы контроля качества. Это включает визуальный осмотр, измерение размеров, контроль твердости, металлографический анализ структуры, а также неразрушающие методы, например, ультразвуковой или вихретоковый контроль дефектов.